介质损耗因数(tanδ)是反映绝缘材料劣化最灵敏的指标之一,电容型设备的电容量变化则直接体现内部元件击穿或受潮。本栏目收录介质损耗试验原理与接线方式、异频介损测试的抗干扰技术、tanδ 的温度换算与纵向比对、容性设备相对介损检测、电容量变化分析,以及电容型设备在线监测与数据验证。内容依据 DL/T 596 与相关标准整理,含判据限值与现场案例。